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APOGEE 130

APOGEE 130

這是一款微聚焦X射線檢測設備 ,主要應用于BGA/CSP、插入元件 、SOP/QFP、三極管 、CHIP元件、底部電極元件、QFN、功率模塊的檢測,檢測缺焊、未浸潤、焊錫量、偏移、異物、橋接、引腳有無等(根據檢查對象不同作不同選擇),VJ自主研發(fā)的檢測軟件,可以對各種電子元器件進行圖像處理,分析,自動計算缺陷。

  • 產品特征

  • 技術參數

  • 應用領域

1. 光管電壓130kv,5微米焦斑,封閉式X射線管
2. 高清數字平板探測器,成像快,圖像效果佳。
3. 配備7軸運到控制系統(tǒng),斜角檢測高達60° ,實現全方位檢測。
4. 最大檢測區(qū)域400 x 400mm
5. 可編程檢測序列,自動識別不良產品。


技術            X-ray光源                 密閉的,微校對                                                            
功率/電壓/電流40W/130kV/0.300mA  
最小光斑尺寸                 5μm
檢測器                     5" FPD       灰度階值: 16位 (65,536陰影) 2.36 MP                   )
像素間距                85μm
視野73mm x 73mm (2.875”x2.875”)
成像速度                      10 FPS/Location
X-ray 鉛房/安全               <0.1Mr/hr (1.0 Usv/hr     IEC, CE, & FDA




該型號現廣泛應用于電子行業(yè)

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