Vi3

X射線成像采集和分析軟件
Vi3是一個(gè)可定制的軟件平臺(tái)，支持直接應(yīng)用及定制化應(yīng)用的X射線成像和控制解決方案

VI3的特點(diǎn)

● 硬件控制

● 圖像增強(qiáng)和分析

● 存檔

● 圖像采集

● 形成報(bào)告

● 對(duì)接MES系統(tǒng)

電路板的原始圖像

高級(jí)缺陷增強(qiáng)(ADE)過(guò)濾器圖像

Vi3提供從運(yùn)動(dòng)控制、圖像采集、分析和存檔等整個(gè)工作流程中各個(gè)方面的完全可配置的控制。

為可擴(kuò)展性而設(shè)計(jì)

為可擴(kuò)展性而設(shè)計(jì)的Vi3可以輕松地與大多數(shù)工業(yè)級(jí)X射線源，探測(cè)器以及被檢測(cè)工件操縱裝置進(jìn)行交互，從而擴(kuò)展了您的硬件選擇。

Vi3的模塊化設(shè)計(jì)使您可以輕松添加選件和功能。Vi3具有三級(jí)密碼保護(hù)，因此高度安全。

Vi3通過(guò)開(kāi)放的體系結(jié)構(gòu)來(lái)提供最大的靈活性，該體系結(jié)構(gòu)擁有眾多接口可對(duì)接外部，如PLC和數(shù)據(jù)庫(kù)服務(wù)器。它還與DICONDE兼容，可以在企業(yè)級(jí)別上部署多個(gè)數(shù)據(jù)收集和審查站。

如果您所在位置的流程發(fā)生了更改，可以調(diào)整Vi3來(lái)修改工作流程或處理邏輯。這大大減少了重寫(xiě)代碼的必要性，甚至在某些情況下不需要重寫(xiě)代碼。在圖像捕獲、操作員檢查和/或ADR分析等任務(wù)同步運(yùn)行時(shí)，單個(gè)系統(tǒng)的工件吞吐量可以達(dá)到最大化。

VJT的Vi3軟件中顯示的所有帶有參考射線照相的鑄件：

所有鑄件的X射線參考照片顯示在VJT的Vi3軟件

更多零件，更優(yōu)質(zhì)，更低風(fēng)險(xiǎn)

先進(jìn)的圖像處理程序，如高級(jí)缺陷增強(qiáng)（ADE）、自動(dòng)缺陷識(shí)別（ADR）和其他模塊化功能，可實(shí)現(xiàn)檢驗(yàn)過(guò)程的自動(dòng)化，最大限度地提高吞吐量和質(zhì)量。此功能有助于提高員工的安全性，并降低產(chǎn)品用戶的風(fēng)險(xiǎn)。

ADR自動(dòng)缺陷識(shí)別

ADR自動(dòng)缺陷識(shí)別(ADR)包括圖像的后處理，用于自動(dòng)檢測(cè)感興趣的預(yù)編程區(qū)域的缺陷。采用ADR專(zhuān)有成像軟件對(duì)模擬和數(shù)字射線照相數(shù)據(jù)進(jìn)行評(píng)價(jià)，無(wú)需操作者干預(yù)。感興趣的區(qū)域(ROI)是使用獲取的數(shù)字射線照相數(shù)據(jù)預(yù)先編程的。然后，該軟件分析每個(gè)指定區(qū)域的缺陷，并提供統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制數(shù)據(jù)，并可配置為在不合格材料或過(guò)程偏差超過(guò)編程水平時(shí)自動(dòng)提醒質(zhì)量過(guò)程人員。自動(dòng)缺陷識(shí)別可以通過(guò)可重復(fù)的、客觀的檢查獲取圖像（上）、ADR增強(qiáng)圖像（下）和改進(jìn)的過(guò)程來(lái)提高制造商的質(zhì)量，但也可以通過(guò)減少勞動(dòng)力來(lái)提高生產(chǎn)率。ADR將X線檢查過(guò)程與機(jī)器視覺(jué)相結(jié)合。X射線穿透產(chǎn)品，成像系統(tǒng)生成圖像進(jìn)行評(píng)估，機(jī)器視覺(jué)自動(dòng)分析圖像和決策過(guò)程。

Vi3圖像處理

從更好的數(shù)據(jù)到更好的分析再到更好的部件

數(shù)字X射線圖像可以產(chǎn)生65000多個(gè)灰度級(jí)。這對(duì)數(shù)據(jù)分析和解釋提出了獨(dú)特的挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)的膠片成像需要以不同的能量、膠片速度和曝光時(shí)間拍攝多張膠片，并在燈箱上進(jìn)行解釋?zhuān)燥@示被檢查零件的所有細(xì)節(jié)。相比之下，我們的數(shù)字圖像捕捉更多的數(shù)據(jù)，全光譜圖像，以改進(jìn)操作和增強(qiáng)。VJT圖像處理與增強(qiáng)技術(shù)能更有效地解決圖像破譯的難題。VJT開(kāi)發(fā)的一些獨(dú)特的模塊化過(guò)濾器包括：

先進(jìn)的缺陷增強(qiáng)(ADE)過(guò)濾器：

使用專(zhuān)有算法逐像素分析單個(gè)X射線圖像，根據(jù)周?chē)鷧^(qū)域突出顯示異常和缺陷。

原始圖像/ ADE 圖像

對(duì)比度和亮度拉伸/ ADE圖像

先進(jìn)的降噪(ANR)過(guò)濾器：

去除通過(guò)散射、低光子計(jì)數(shù)和類(lèi)似事件引入圖像的噪聲，而不去除圖像中的微弱特征或缺陷。

原始圖像 / ADE 圖像

高級(jí)裂紋檢測(cè)(ACD)過(guò)濾器:

適用于檢測(cè)裂紋和類(lèi)似裂紋狀跡象的ADE過(guò)濾器的變體。

尋找彈藥的基底間隙檢測(cè)原始圖像的/使用ACD過(guò)濾器后基底間隙檢測(cè)

尋找基底間隙檢測(cè)的原始圖像的彈藥/使用ACD過(guò)濾器基底間隙檢測(cè)

X射線2.0:X射線檢查的未來(lái)就是現(xiàn)在

我們獨(dú)有的專(zhuān)利圖像處理過(guò)濾器套件可定制和配置，以滿足任何應(yīng)用。從突出鑄件內(nèi)的氣孔，到檢測(cè)焊縫中的夾鎢，或在嬰兒食品罐中發(fā)現(xiàn)異物，Vi3過(guò)濾器可提高產(chǎn)品質(zhì)量并增強(qiáng)產(chǎn)品安全性。

自動(dòng)化缺陷識(shí)別(ADR)軟件：

作為自動(dòng)化檢查的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，ADR使VJT系統(tǒng)能夠分析X射線圖像，檢測(cè)缺陷和判斷零件（無(wú)論是操作員輔助的還是完全自動(dòng)化的），使生產(chǎn)過(guò)程更放心。

為ADR定義感興趣區(qū)域的管件獲取圖像 ADR通過(guò)面積測(cè)量找出缺陷

這只是VJ Technologies提供的專(zhuān)用過(guò)濾器的樣本。如有特殊要求，請(qǐng)聯(lián)系我們。

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Vi3

VI3的特點(diǎn)